倒计时35天| 半导体分析测试应用论坛,守好半导体的“质量”关!

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众所周知,半导体分析测试贯穿整个半导体制造过程,其重要性不言而喻。随着半导体产业的快速发展,业内对半导体分析测试的要求也不断提高。一块半导体芯片的制造,往往要经过许多精细复杂的加工步骤,随着半导体工艺不断下探1nm,量产过程中更多的产品生产故障率要求我们进一步探索精度更高、成本更低、效率更高的半导体分析测试方式,以确保产品的质量,同时将测试结果应用于更多的产品设计优化中去,为半导体产业的发展贡献力量。



半导体分析测试应用论坛自2018年首次举办以来,已经连续三年亮相中国国际纳米技术产业博览会,得到了企业、行业协会、高校及科研院所等单位的大力支持,累计吸引1000余名半导体与集成电路领域的专业人士参会,交流分享最新的研究成果和行业资讯。三年来,会议影响力不断扩大,正向着成为行业更高水平会议的目标不断奋进!

2021年10月28日

第四届纳博会半导体分析测试应用论坛

再次与您相约苏州国际博览中心

和我们一起

探讨最新的半导体分析测试技术!


精彩议题全曝光


1、射频、滤波器、功率半导体等芯片的故障分析方案

2、物理分析技术、表面/化学分析技术在材料表征、失效分析和质量保证中的应用

3、TEM、SEM & Nanoprobing等高端制备技术及应用

4、集成电路及显示器件失效分析和材料分析表征


本届论坛由胜科纳米(苏州)股份有限公司主办,江苏省纳米技术产业创新中心、中国半导体行业协会MEMS分会、苏州纳米科技发展有限公司合办,赛默飞世尔科技、日立科学仪器有限公司 、蔡司中国、高德英特(北京)科技有限公司、爱斯佩克环境仪器(上海)有限公司、仪器信息网协办,期间将邀请多名国内外半导体领域的专家、学者、企业家、工程师,紧紧围绕上述四大议题展开交流,分享相关的分析测试技术案例,探讨半导体分析检测技术发展应用趋势,给与会嘉宾提供全新的技术交流平台!


已确认演讲嘉宾


姓名

国籍

公司组织

职位

王宏宇

中国

博世

副总裁

龚轶

中国

东微半导体

董事长

孙剑

新加坡

上海鼎泰匠芯

总经理

池保勇

中国

清华大学微电子所

副所长

宋吉夔

韩国

三星半导体

总经理

TBD

-

赛默飞

研发总监

TBD

-

日立

研发总监

TBD

-

蔡司

研发总监

TBD

-

PHI

研发总监

TBD

-

Espec

研发总监

霍宗亮

-

长江存储

研发总监

赵斌

-

华星光电

研发副总

朱袁正

-

无锡新洁能

董事长

王丹

-

京东方

研发资深总监


什么样的半导体测试才是现在的市场需求?

半导体分析测试的最新变化和机遇?

有哪些先进的半导体分析测试设备?

……

你关心的半导体分析测试相关问题

答案都在这里

  快来加入我们吧!



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